• Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych
  • Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych

Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych

No.ZE3316
ZE3316 Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych
Moc wejściowa
trójfazowy system pięcioprzewodowy 380 V ± 10% 60 Hz
Wymiary
1300mm × 650mm × 1500mm
Warunki pracy
temperatura otoczenia -10°C ~ +40°C wilgotność względna <85% (25°C)
  • Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych

Description

ZE3316 Trener technologii procesów elektronicznych Sprzęt dydaktyczny Sprzęt szkolny Sprzęt do szkoleń elektrycznych
1 Przegląd produktu
1-1 Przegląd
1. Ten produkt integruje system szkoleniowy z zakresu obwodów cyfrowych i analogowych, umożliwiając przeprowadzanie testów obwodów analogowych i cyfrowych.
2. Produkt został zaprojektowany z regulowanym zasilaczem, prądem przemiennym niskiego napięcia, generatorem częstotliwości, brzęczykiem, gniazdem wielogniazdowym, regulatorem napięcia itp., co zapewnia bogate zasoby do pomiarów, debugowania i rozwoju nowych produktów elektronicznych.
1-2 Cechy
1. Urządzenie posiada specjalną wtyczkę, która ułatwia uczniom szybkie skonfigurowanie układu eksperymentalnego w celu ukończenia testu.
2, dzięki zastosowaniu różnorodnych komponentów elektronicznych i narzędzi montażowych, uczniowie mogą nie tylko ćwiczyć umiejętności montażu i debugowania, ale także projektować programy nauczania, projektować prace dyplomowe, brać udział w konkursach umiejętności i rozwijać inne umiejętności.

2 Parametry wydajności
(1) Moc wejściowa: trójfazowy system pięcioprzewodowy 380 V ± 10% 60 Hz
(2) Wymiary: 1300 mm × 650 mm × 1500 mm
(3) Moc maszyny: <2 kVA
(4) Waga: <250 kg
(5) Warunki pracy: temperatura otoczenia -10°C ~ +40°C, wilgotność względna <85% (25°C)
3. Lista eksperymentów
Eksperyment 1 Charakterystyka przełączania tranzystorów, ogranicznik i zacisk
Eksperyment 2 Test funkcji logicznych i parametrów bramki logicznej TTL
Eksperyment 3 Podłączanie i sterowanie układami scalonymi
Eksperyment 4 Konkurs intelektualny